近日，國聯研究院檢測(ce)(ce)(ce)試驗(yan)中(zhong)心(xin)全面掌握國際電(dian)工委員會標準IEC62133《便攜式電(dian)子產(chan)品(pin)用含(han)堿性或(huo)非(fei)酸性電(dian)解液(ye)的(de)單體蓄電(dian)池和電(dian)池組(zu)的(de)安全要求》電(dian)池強制內(nei)短路(lu)(lu)測(ce)(ce)(ce)試全過(guo)程技術，實現測(ce)(ce)(ce)試電(dian)池高(gao)質量植入制樣(yang)及精確定(ding)位擠(ji)壓強制內(nei)短路(lu)(lu)測(ce)(ce)(ce)試，可提供電(dian)池強制內(nei)短路(lu)(lu)測(ce)(ce)(ce)試服(fu)務并(bing)出具完整測(ce)(ce)(ce)試報(bao)告，拓寬了(le)檢測(ce)(ce)(ce)服(fu)務客(ke)戶群(qun)，客(ke)戶對制樣(yang)效果和擠(ji)壓測(ce)(ce)(ce)試結(jie)果均非(fei)常滿意，奠定(ding)了(le)長期合(he)作基礎。

在此(ci)之(zhi)前(qian)，對于強制(zhi)內短路(lu)測(ce)(ce)試，電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)檢測(ce)(ce)單位(wei)大多(duo)采用(yong)幾(ji)家聯(lian)合(he)的方(fang)式進行，一家檢測(ce)(ce)單位(wei)僅完成(cheng)(cheng)IEC62133標準中強制(zhi)內短路(lu)測(ce)(ce)試方(fang)法的一項或幾(ji)項步驟，而不能完成(cheng)(cheng)全(quan)過(guo)(guo)(guo)程項目。此(ci)次國聯(lian)研究(jiu)院檢測(ce)(ce)試驗(yan)中心與(yu)(yu)制(zhi)造(zao)事業(ye)部(bu)聯(lian)合(he)，開展了大量電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)強制(zhi)內短路(lu)測(ce)(ce)試實(shi)驗(yan)，全(quan)面(mian)掌握了強制(zhi)內短路(lu)測(ce)(ce)試全(quan)過(guo)(guo)(guo)程技術(shu)，包括(kuo)對滿(man)電(dian)(dian)(dian)態被(bei)測(ce)(ce)試電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)樣品進行精準拆解(jie)，保證(zheng)被(bei)擠(ji)壓(ya)極片完整；植入L型(xing)鎳(nie)(nie)(nie)顆粒(li)，通(tong)過(guo)(guo)(guo)十字交(jiao)叉法精確定(ding)位(wei)L型(xing)鎳(nie)(nie)(nie)顆粒(li)并封裝還原，實(shi)現高(gao)質量還原拆解(jie)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)；通(tong)過(guo)(guo)(guo)伺服電(dian)(dian)(dian)機(ji)和壓(ya)力實(shi)時回饋系統精確控(kong)制(zhi)，精確定(ding)位(wei)擠(ji)壓(ya)1mm L型(xing)鎳(nie)(nie)(nie)顆粒(li)，強制(zhi)引發電(dian)(dian)(dian)芯內短路(lu)，監測(ce)(ce)與(yu)(yu)記錄全(quan)過(guo)(guo)(guo)程數據(ju)。

電池內(nei)短(duan)路(lu)測試國際標(biao)準中，IEC62133標(biao)準的(de)內(nei)短(duan)路(lu)測試方法與(yu)電池實(shi)際失效過(guo)程最接近，可通過(guo)預設內(nei)短(duan)路(lu)位置點，模擬單層內(nei)短(duan)路(lu)失效情況，但是對于樣品制(zhi)(zhi)備、擠壓位置和(he)擠壓力的(de)控(kong)制(zhi)(zhi)要求(qiu)很高。